정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
Metal-Dielectric CVD(Chemical Vapor Deposition) for BEOL
DRIS No. | DRIS-19-1015 |
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시설장비등록번호 | NFEC-2023-11-291260 |
보유기관 | 대구경북과학기술원 |
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이메일 |
모델명 | AMAT Centura-5200 CVD System | 제작사 | 러셀 |
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취득일자 | 2023-10-20 | 취득금액 | 2,145,000,000원 |
5대 미래산업 분류 | 해당없음 | 활용용도 | 시험 |
표준분류 | 기계가공/시험장비 > 반도체장비 > 유기금속화학증착장비 | ||
장비위치 | |||
장비설명 | 소자 배선공정에는 Contact 형성/배선 패턴 형성(Barrier, Metal 등)/층간 절연막 형성/평탄화/Via Hole 형성/Via Plug 형성/Passivation 등이 있는데, 특히 배선공정용 화학기상증착장비(3챔버)의 용도는 W-Plug 공정을 통한 Gap-Fill공정(W-챔버), 층간 절연막 형성(TEOS-챔버), Passivation(SiN-챔버) 공정 등에 특화된 장비 | ||
구성 및 기능 |
○ (Process chamber-1)W-CVD Chamber를 통한 텅스텐 Gap-Fill 공정 가능(M1, M2, M3 … 등 Metal to Metal 다층배선전극 공정을 가능하게 함).
○ (Process chamber-2)SiNx Chamber를 통한 SiNx 박막 공정 가능(Passivation Nitride 박막층 형성). ○ (Process chamber-3)SiOx Chamber를 통한 SiOx 박막 공정 가능(IMD:Inter-Metal Dielectric 박막층 형성). ○ Performance and Specification 1) Chamber Vacuum Leak Rate : < 2mtorr/min(W) & <10mt(SiNx/SiOx) 2) Within Wafer Uniformity : < 5% (Thickness 300nm, 13point) 3) Wafer to Wafer Uniformity : < 5% (5Wafer, Thickness 300nm, 13point) 4) W Gap Fill : 350nm Via Hole Pattern, Aspect Ratio 3:1 |
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사용/활용예 | |||
이용안내 | |||
유의사항 |
담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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