연구시설장비

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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)

임피던스 측정장치

IMPEDANCE ANALYZER

DRIS No.	DRIS-2-0243
시설장비등록번호	NFEC-2001-05-040113
보유기관	계명대학교
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장비정보

모델명	4294A	제작사	Agilent Technologies
취득일자	2000-08-28	취득금액	42,253,226원
5대 미래산업 분류	UAM,반도체	활용용도	시험
표준분류	전기/전자장비 > 측정시험장비 > 다기능임피던스측정시험장비
장비위치	대구광역시 달서구 달구벌대로 1095 (신당동) 계명대학교 성서캠퍼스 공과대학 3호관 F5 이춘호교수 연구실 3519호
장비설명	Agilent 4294A 고정밀 임피던스 분석기는 효율적인 임피던스 측정과 부품/회로 분석을 위한 통합형의 솔루션이다. 본 제품은 0.08%의 기본 임피 던스 정확도로 40Hz~100MHz의 넒은 테스트 주파수 범위를 포괄한다. High-Q/Low-D 정확도가 우수하여 저손실 부품에 대한 분석이 가능하며 신호 레벨 범위가 넓어 실제 동작하는 디바이스들도 분석 가능하다. 테스트 신호레벨은 5mV~1V rms 또는 200 ~ 200mA rms dc 바이어스는 0 40V 또 는 0 100mA의 범위가 지원된다. 개선된 교정 및 에러보상 기능이 내장되어 있어 in-fixture 디바이스에 대한 측정시 발생하는 에러요인을 제거합 니 다.
구성 및 기능	Frequency range : 40Hz to 110MHz (1mHz resolution) Measurement parameter :Z Y Phase R X G B L C D Q Basic Measurement accuracy : Z (+/- 0.08%) Source (OSC) level : 5mV to 1Vrms/200uA to 20mA Level monitor :AC Level (voltage current) DC Bias (voltage current) DC bais : 0 to +/-40V 100mA (1mV/40uA resolution) Sweep parameters : Frequency Osc Level (V I ) DC Bias (V I) Sweep Type : Log Linear List Zero Span Manual Measurement Time 3ms per point (min) Error correction : OPEN/ SHORT/LOAD Calibration OPEN/SHORT/LOAD Compensaion Port Extension Cable Iength : 0m 1m 2m (upto 110MHz) Display : 8.4 inch color TFT LCD Display Display control : Autoscale Superimpose Storage Phase Scale Expansion Analysis : Marker Line-Cursor Equivalent Circuit Program : Built-in Instrument BASIC Interface : LAN GPIB 8-bit I/O 24-bit I/O Centronics Printer I/F VGA output mini-DIN Keyboard I/F Mass Storage : 3.5-inch floppy disk drive 10Mbyte non-volatile memory volatile memory Others : Direct Color Print Graphic format (TIFF) Support Optional Features : High frequency stability (Opt.1D5)
사용/활용예	강유전체인 PZT의 C-V 측정 각종 유전체의 C-V 측정 강유전체 메모리의 Buffer Iayer로 사용되는의 C-V 측정 재료의 유전율 측정
이용안내
유의사항

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