정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
Vacuum Chamber Probe Station
DRIS No. | DRIS-1-0557 |
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시설장비등록번호 | NFEC-2009-04-070880 |
보유기관 | 경북대학교 |
담당자 | |
연락처 | |
이메일 |
모델명 | MST-6000 | 제작사 | 엠에스테크 |
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취득일자 | 2009-04-17 | 취득금액 | 56,500,000원 |
5대 미래산업 분류 | 헬스케어 | 활용용도 | 시험 |
표준분류 | 기계가공/시험장비 > 반도체장비 > 프로브스테이션 | ||
장비위치 | |||
장비설명 |
특징
-진공챔버내에서 소자를 프로브 스테이션에 장착한 후 특정 희석 가스를 챔버내에 흘려주어 소자의 가스 특성을 측정함. -진공챔버와 마이크로현미경시스템 정밀회로탐침기 등으로 구성됨 - MFC가 별도 장치됨 |
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구성 및 기능 |
구성및성능
- 본체 : Vacuum Chamber Analyze Triaxial Measurement Probing System - I-V 측정 탐침 시스템 - 마이크로 현미경 시스템 - 정밀회로 탐침기 - 정밀회로 탐침홀더 : Probe Holder - Cal Type - 진공펌프 - 무진동테이블 : Vibration Table - Air Mount Type |
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사용/활용예 |
활용분야
반도체 소자의 전극에 탐침을 정밀하게 위치시켜 전압 또는 전류를 전극에 인가하도록 해줌. Features - Easily operating - Low current(~50 fA level less than) - Using mainly wafer measurement - Manufacturing based 6" wafer size |
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이용안내 | |||
유의사항 |
담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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