연구시설장비

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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)

탁상형 X-선 회절장치

X-Ray Diffractometer

DRIS No.	DRIS-19-0182
시설장비등록번호	NFEC-2017-05-237645
보유기관	대구경북과학기술원
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장비정보

모델명	Miniflex 600S	제작사	Rigaku
취득일자	2017-03-22	취득금액	69,059,935원
5대 미래산업 분류	헬스케어	활용용도	시험
표준분류	화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선회절분석기
장비위치	대구광역시 달성군 현풍면 테크노중앙대로 333 대구경북과학기술원 E6 F3 322
장비설명	컴팩트한 데스크탑 X-선 회절장치로, 고품질의 분말회절데이터를 얻을 수 있다. 사용법이 간단하고 최소한의 설치공간으로 어디든 설치가 가능하며, 유지보수 등의 비용을 최대한 절감할 수 있는 장치이다. 상위 기종에 상응하는 기본 성능을 갖고 있다. Real time 각도 보정 등에 의해 각도 정밀도, 강도, P/B비의 기본 성능이 큰 폭으로 향상되어 고품질 데이터를 얻을 수 있다. 단색화장치(Monochromator)장착이 가능하다. 그로인해 Kβ선 및 형광 X-선 등의 제거에 의한 Peak/Background (P/B)비 향상으로 작은 피크 검출도 가능하다. Guidance software에 의한 측정 오류 최소화. 고효율 고속 검출기 장착으로 고강도 회절데이터를 얻을 수 있다.
구성 및 기능	1. X-ray generator 1) Power : 600W or higher 2) Tube voltage : 20-40kV (step variable) or more 3) Tube current : 2-15mA (step variable) or more 4) X-ray tube : Cu target 5) Shutter : electromagnetic rotary shutter 6) Safety features 7) X-ray radiation enclosure 2. ;niometer 1) Geometry : Vertical θ/2θ 2) Drive axis : θ/2θ coupled (mechanical linked axis) 3) Drive method : single axis regular interval control 4) Minimum step width : 0.005° or smaller 5) ;niometer radius : 150mm or wider 6) Slit system (1) Divergence Slit : 0.625°, 1.25° or more (2) Variable DS : in use below 67°(2θ) - continuous variable mode : X-ray irradiation width is kept constant at approx.20mm in use below approx. 67°(2θ) (3) Receiving Slit : 0.3mm or more (4) Scattering Slit : 1.25° or more (5) Soller slit : divergence angle 2.5° 7) Compatible with Temp. attachment 8) Compatible with battery cell 3. High speed 1D detector 1) Mainbody : 1D Semiconductor strip type detector 2) Effective element detection area : 256mm² or bigger 3) Energy resolution 25% or less (@Cuka) 4) Counting efficiency : More than 98% (@CuKa） 5) Knife edge unit : reducing scattering background at low angle area. (1) Diffraction angle variable type or equivalent 4. Standard software or equivalent 1) System environment setting 2) Real time angle correction 3) Standard measurement 4) Integrated intensity calculation 5. Application software or equivalent 1) Basic data processing (1) Smoothing, background subtraction, Ka2 elimination (2) Peak search, multiple peak separation (3) Multiple plotting 2) Qualitative analysis 3) Application package (1) Crystallinity analysis (2) Crystallite size and lattice strain (3) Lattice parameter refinement (4) Stress 6. Accessories 1) Sample holder (1) Al sample holder (2) Glass sample holder 0.2mm (3) Glass sample holder 0.5mm 2) Control & data processing unit (1) Type : Intel Core i3(3.4GHz) or better (2) Main memory : 4GB or more (3) Hard disk drive : 1TB or more
사용/활용예	결정/비결정/결정 다형의 패턴 측정, 교육,실습,실험용. 배터리 전극 물질의 충전 방전 전후 XRD 분석. 특정 물질 합성 시 물질 구조 분석, 새로운 물질의 구조 분석을 할수 있다.
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